PolyWorks® 2025新的突破


尺寸分析和质量控制解决方案





在开始扫描时立享自动对齐





无需探测特征或匹配相应点,即可快速将激光扫描仪与CAD模型预先对齐。只需在3D场景窗口中指示扫描仪的初始位置和方向,然后按照指示开始扫描工件。几秒钟后,PolyWorks|Inspector 会自动将最开始扫描的点与CAD模型对齐,让您立享特征扫描向导,并提高多工件测量工作流程的可重复性。


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使用GD&T计算出的尺寸快速确定纠正方案



分析与GD&T相关的偏差值及其位置,以诊断和修复制造问题或监控统计趋势。GD&T位置和轮廓补充信息可即时报告描述实际测量偏差的数值,并以基准参考框对齐表示,而无需创建附加特征或对齐数据。其中包括:


  • 测量孔的中心点坐标

  • 轴向特征的顶部、底部和最大偏差坐标

  • 最大材料内和材料外偏差以及曲面轮廓度坐标




利用CAD装配树简化零件选择

更快速地输入CAD装配,并显示其装配树,从而轻松选择子装配或同一零件的多个实例。





通过结合单点测量和曲面扫描工具,自动检测大型零件

PolyWorks|Inspector为Leica Absolute Tracker ATS800 和API Dynamic 9D LADAR测量设备提供新的混合插件,可测量特定点或扫描区域。您可以将这些设备用作非接触式探测工具或切换至扫描模式,来查看数字读数、使用预定义测量点来测量特征、执行调装/检测工作流程、探测曲面点对齐或扫描自由曲面和棱柱曲面。此外,您还可以使用序列编辑器中的混合插件实现多工件检测自动化。





借助CMM辅助序列技术处理更复杂的CAD曲面

进一步优化了久负盛名的辅助序列技术,现可更加智能地简化CNC CMM测量序列的创建:


    • 支持修整过的圆柱体、圆锥体和球体


    • 自动减少过大的排除距离,确保特征可测量性

    • 更好地处理窄圆锥体


在ZEISS CMM上执行接触式扫描

将我们的接触式扫描测量方法与CMM-OS结合使用。







丰富了基于CMM的激光扫描工具箱

通过加装激光扫描仪,延长CNC CMM的使用寿命。使用PolyWorks|Inspector 2025,可以:


    • 支持最新的Kreon和LK扫描仪型号、Renishaw和LK控制器上的Kreon扫描仪、Renishaw控制器上的Nikon扫描仪以及ZEISS LineScan扫描仪(通过I++)


    • 通过预览激光平面并调整其方向(在可能的情况下),在使用CAD模型定义或选择扫描仪方向时,节省时间并避免出错

    • 通过预览激光平面并调整其方向(在可能的情况下),在使用CAD模型定义或选择扫描仪方向时,节省时间并避免出错




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